發(fā)布時(shí)間：2021-01-11 00:01

　　隨著集成電路特征尺寸的逐步縮小,隨之而來快速增長的軟錯誤率嚴(yán)重限制了現(xiàn)代微處理器的應(yīng)用,因此對微處理器可靠性進(jìn)行評估十分重要。在微處理器體系結(jié)構(gòu)級進(jìn)行軟錯誤易感性評估能反映出微處理器部件的可靠性,提出基于Simple Sim-ARM模擬器對微處理器體系結(jié)構(gòu)級進(jìn)行軟錯誤易感性評估的方法,可用于對ARM體系結(jié)構(gòu)微處理器進(jìn)行軟錯誤易感性評估。根據(jù)提出方法對Strong ARM SA-11xx進(jìn)行軟錯誤易感性分析,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,在基準(zhǔn)配置情況下,存儲部件中寄存器文件的平均AVF值為57. 76%;非存儲部件發(fā)射隊(duì)列（IQ）、保留站與重定序緩沖（RUU）與功能單元（FU）的平均AVF值分別為38. 53%、32. 02%和12. 39%。在不同配置下,IQ和RUU部件容量越大,對應(yīng)部件AVF評估值越小; FU數(shù)量越多,該部件AVF評估值越小。 

【文章來源】：計(jì)算機(jī)應(yīng)用研究. 2020,37(07)北大核心

【文章頁數(shù)】：5 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 AVF計(jì)算方法
    1.1 指令分析
    1.2 分析邏輯屏蔽指令
    1.3 生命周期分析
2 實(shí)驗(yàn)方法
    2.1 軟錯誤易感性評估功能結(jié)構(gòu)
    2.2 模擬器配置與測試程序
3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
    3.1 寄存器文件的AVF結(jié)果
    3.2 非存儲結(jié)構(gòu)的AVF結(jié)果
        3.2.1 基準(zhǔn)關(guān)鍵參數(shù)配置
        3.2.2 不同關(guān)鍵參數(shù)配置
    3.3 相關(guān)研究比較
4 結(jié)束語


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于指令流混合比與功能單元匹配的軟錯誤脆弱性控制方法[J]. 唐柳,黃樟欽,張會兵.  計(jì)算機(jī)應(yīng)用研究. 2017(01)
[2]微處理器可靠性AVF評估方法研究綜述[J]. 唐柳,黃樟欽,侯義斌,方鳳才,張會兵.  計(jì)算機(jī)應(yīng)用研究. 2014(03)
[3]一種快速有效的L2 Cache可靠性預(yù)測方法[J]. 成玉,馬安國,王永文,唐遇星,張民選.  計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展. 2013(01)
[4]基于內(nèi)建自測的軟錯誤與老化在線檢測[J]. 楊叔寅,秦晨飛,黃正峰,梁華國.  計(jì)算機(jī)工程. 2012(08)
[5]基于SRAM結(jié)構(gòu)的FPGA抗輻射布局算法[J]. 楊文龍,陳麗,王伶俐,王穎.  計(jì)算機(jī)工程. 2012(05)
[6]微處理器體系結(jié)構(gòu)模擬器SimpleScalar分析與優(yōu)化[J]. 金立忠,竇勇.  計(jì)算機(jī)應(yīng)用研究. 2006(08)



本文編號：2969664