發(fā)布時(shí)間：2025-03-17 22:11

　　 文章介紹了CsI(T1)晶體探測(cè)器能量刻度的傳統(tǒng)方法,并對(duì)其局限性進(jìn)行了研究,發(fā)現(xiàn)對(duì)大角度范圍內(nèi)的CsI(T1)晶體無(wú)法探測(cè)到的粒子或是只能探測(cè)到某個(gè)或某幾個(gè)產(chǎn)額較高的粒子時(shí),傳統(tǒng)方法無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)所有粒子進(jìn)行能量刻度。因此文章的研究具有重要的現(xiàn)實(shí)意義,對(duì)開(kāi)創(chuàng)一種新的刻度CsI(T1)晶體探測(cè)器能量的方法起到了推動(dòng)和促進(jìn)作用。

【文章頁(yè)數(shù)】：2 頁(yè)

【文章目錄】：
引言
1 探測(cè)器的結(jié)構(gòu)
2 傳統(tǒng)的能量刻度方法及其局限性
3 結(jié)束語(yǔ)



本文編號(hào)：4035549