發(fā)布時間：2018-09-12 17:20

【摘要】：目前,商品和服務(wù)的市場全球化正在不斷發(fā)展。全球化使得商品與服務(wù)的質(zhì)量對于達(dá)到客戶滿意度變得越來越重要,甚至直接影響著公司的發(fā)展前景。質(zhì)量工作中一個重要的部分就是降低由于生產(chǎn)良率損失帶來的相關(guān)質(zhì)量成本。本文的目的便是研究在ENC公司的無線基站生產(chǎn)中為何會產(chǎn)生良率損失以及如何去有效的降低這些良率損失。論文的研究工作將基于無線基站產(chǎn)品開展,研究形式則是基于六西格瑪?shù)腄MAIC質(zhì)量改進(jìn)方法。在定義階段,2015年底數(shù)周的良率數(shù)據(jù)統(tǒng)計結(jié)果為84%,低于2016年的目標(biāo)要求90%。SIPOC圖的制作使研究對于整體的無線基站裝配測試流程有了一個大概的理解。測量階段則通過詳細(xì)的流程圖進(jìn)一步了解了裝配與測試流程。并且通過一一列舉出的測試站與待測無線基站間的各個接口關(guān)系,更加強(qiáng)了對于測試環(huán)節(jié)的解讀。在此環(huán)節(jié)也提供了更詳細(xì)的關(guān)于測試組、測試點、測試項、測試值等關(guān)系的信息。測試環(huán)節(jié)的流程研究也提供了測試中各種信息數(shù)據(jù)的存儲與收集方法。分析階段首先將良率損失分解成不同類別,并且發(fā)掘出離散(Outlier)類是對良率損失貢獻(xiàn)最大的。進(jìn)一步分析數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn),無故障碼分配(NFF)是造成Outlier良率損失的重要原因。通過頭腦風(fēng)暴以及一些列的研討會,連接不良以及幾種不同的測試值被重點突出,作為研究ONFF潛在根因的著重分析方向。使用帕累托圖等分析手法,又得出了一些測試連接不良以及個別幾個測試值是最經(jīng)常造成ONFF良率損失的直接原因。進(jìn)而選擇了相關(guān)的連接以及測試值分析了External Alarm Check良率損失的根因。通過時間維度去分析External Alarm Check良率損失并沒有得到對根因分析有用的結(jié)論。通過與測試技術(shù)人員探討,相關(guān)良率損失與測試線纜的連接有著很大關(guān)系。進(jìn)一步分析造成線纜連接不良的原因：軟件中缺少連接預(yù)檢、線纜纏繞、測試夾具問題、接口設(shè)計問題以及相關(guān)維護(hù)的問題。對于這個測試點的分析中,也發(fā)現(xiàn)了重測流程以及維修信息錄入的待改進(jìn)空間�；�于這些發(fā)現(xiàn),在改進(jìn)階段給出了相關(guān)的改進(jìn)建議以降低各種潛在根因?qū)α悸实挠绊�。并且建議ENC公司標(biāo)準(zhǔn)化穩(wěn)定的測試站環(huán)境、在所有測試點上進(jìn)行連接預(yù)檢、研發(fā)新的接口、重新梳理維護(hù)規(guī)則、標(biāo)準(zhǔn)化重測流程、保證維修信息的輸入等。最后在控制階段,強(qiáng)調(diào)了改進(jìn)建議的持續(xù)執(zhí)行。
[Abstract]:At present, the market globalization of goods and services is developing continuously. Globalization makes the quality of goods and services more and more important to achieve customer satisfaction, and even directly affects the development prospects of the company. An important part of quality work is to reduce the quality costs associated with loss of yield. The purpose of this paper is to study why and how to reduce the yield loss in ENC's wireless base station production. The research work will be based on the wireless base station product, and the research form is the DMAIC quality improvement method based on six Sigma. In the definition phase, the yield data for the weeks of late 2015 was 84, which is below the target of 2016. The production of the 90%.SIPOC diagram gives the research a general understanding of the overall wireless base station assembly testing process. In the measurement stage, the assembly and testing process is further understood through a detailed flow chart. And through each interface relation between the test station and the wireless base station to be tested, the interpretation of the test link is strengthened. This section also provides more detailed information about test groups, test points, test items, test values, and so on. The research of test procedure also provides the method of storing and collecting all kinds of information data in test. In the analysis stage, the yield loss is decomposed into different classes, and the discrete (Outlier) class is found to contribute most to the yield loss. Further analysis shows that fault-free code allocation (NFF) is an important reason for the loss of Outlier yield. Through brainstorming and a number of columns of seminars, poor connectivity and several different test values are highlighted as an analytical focus on the underlying causes of ONFF. By using Pareto diagram and other analytical techniques, it is found that some poor test connections and a few test values are the most frequent causes of the loss of ONFF yield. Then the related connection and test value are selected to analyze the root cause of External Alarm Check yield loss. The analysis of External Alarm Check yield loss by time dimension does not lead to a useful conclusion for root cause analysis. Through discussion with the test technicians, the relative yield loss is related to the connection of the test cable. Further analysis of the causes of poor cable connection: the lack of software connection pre-check cable winding test fixture problems interface design problems and related maintenance problems. In the analysis of this test point, the retesting process and the room for improvement of the input of maintenance information are also found. Based on these findings, suggestions for improvement are given in the improvement phase to reduce the effects of various potential root causes on yield. It is also suggested that ENC company should standardize the stable test station environment, connect and pre-check at all test points, develop new interfaces, rearrange maintenance rules, standardize the re-testing process, and ensure the input of maintenance information, etc. Finally, in the control phase, the continuous implementation of the improvement recommendations is emphasized.
【學(xué)位授予單位】：南京理工大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN05

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本文編號：2239698