實時監(jiān)測技術研究薄液膜下電偶腐蝕的機理
發(fā)布時間：2024-06-08 04:16
采用大氣腐蝕檢測技術(ACM)、零電阻電流技術(ZRA)以及電化學阻抗譜技術(EIS)對2024鋁合金與316L不銹鋼在薄液膜下的電偶腐蝕行為進行了實時監(jiān)測。結果表明,電偶腐蝕的過程可分為誘導期、加速期和減速期3個階段。隨著兩電極之間距離的減小,電偶腐蝕會快速誘發(fā),且腐蝕速率迅速增加,但電偶腐蝕的加速期變短。
【文章頁數】：6 頁
【文章目錄】：
1 實驗方法
2 結果與討論
2.1 大氣腐蝕監(jiān)測儀測試
2.2 零電阻電流測試
2.3 EIS測試
3 結論
本文編號：3991439
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1 實驗方法
2 結果與討論
2.1 大氣腐蝕監(jiān)測儀測試
2.2 零電阻電流測試
2.3 EIS測試
3 結論
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