基于單片機的光感芯片光學(xué)性能測試系統(tǒng)
發(fā)布時間:2025-01-20 16:43
光學(xué)性能是評估光感芯片的功能與質(zhì)量的重要指標,光譜儀的測試是一般的方法。以單步單色儀進行光譜響應(yīng)測試,需要人工調(diào)整波長間隔并機械點擊鼠標,工作量較大且易出錯。本文以單片機驅(qū)動芯片,VB建立數(shù)據(jù)接收系統(tǒng),控制信號傳輸間隔,有效的提高測試效率。測試結(jié)果表明,該系統(tǒng)切實可行。
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【部分圖文】:
本文編號:4029403
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圖2 測試系統(tǒng)界面
(7)數(shù)據(jù)分析,作圖光譜響應(yīng)曲線(如圖3)。圖3光譜響應(yīng)曲線
圖1 檢測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)流程圖
測試軟件使用VB和C++作為程序開發(fā)軟件。VB主要用于界面生成,對單色儀進行二次開發(fā),配合PCI數(shù)據(jù)卡進行數(shù)據(jù)抓取,C++主要為單片機進行IIC協(xié)議交互控制。1.3光學(xué)測試系統(tǒng)實際制作
圖3 光譜響應(yīng)曲線
圖2測試系統(tǒng)界面3光學(xué)測試系統(tǒng)實驗室標準對比
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