發(fā)布時(shí)間：2024-05-24 22:35

　　在競(jìng)爭(zhēng)越發(fā)激烈的大背景下,掌握技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)對(duì)于企業(yè)科學(xué)布局技術(shù)研發(fā)有著重要指導(dǎo)價(jià)值。一個(gè)企業(yè)對(duì)技術(shù)的投資前提首先要全面了解和整體把握投資對(duì)象,技術(shù)發(fā)展階段是作為投資對(duì)象的主要吸引力。專利是測(cè)度技術(shù)發(fā)展程度的重要方式,人們利用專利推測(cè)技術(shù)未來發(fā)展方向,為企業(yè)發(fā)展和技術(shù)研發(fā)提供參考價(jià)值。本文首先基于國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀,總結(jié)了技術(shù)生命周期的理論研究、方法研究、方法應(yīng)用以及基于技術(shù)生命周期理論的其他方向研究,系統(tǒng)整理當(dāng)前已有判別方法,充分分析其各自的優(yōu)點(diǎn)和局限性及適用條件環(huán)境,指出目前測(cè)度技術(shù)生命周期的各項(xiàng)指標(biāo)的有效性有待考量,且指標(biāo)體系有待完善。因此我們首先完善指標(biāo)體系,引入普賴斯指數(shù)和引文半衰期測(cè)度專利老化問題,彌補(bǔ)當(dāng)前對(duì)于專利質(zhì)量研究不深入問題。構(gòu)建包含8個(gè)主要指標(biāo)的判別指標(biāo)體系,包括申請(qǐng)量、申請(qǐng)人數(shù)量、普賴斯指數(shù)、引文半衰期和專利指標(biāo)法的四個(gè)指標(biāo),解釋指標(biāo)含義并闡釋各自表現(xiàn)特征�；�于此提出構(gòu)建新指標(biāo)的技術(shù)路線圖,首先測(cè)度指標(biāo)體系中指標(biāo)的有效性,采用因子分析法對(duì)指標(biāo)的重要性進(jìn)行分析,將遴選出的3個(gè)公因子中載荷最大指標(biāo)作為構(gòu)建新指標(biāo)的基礎(chǔ),加權(quán)綜合構(gòu)建出新指標(biāo)。實(shí)證分析我們以O(shè)LED領(lǐng)域?yàn)槔?...

【文章頁(yè)數(shù)】：60 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖2.1S曲線圖

第二章基本理論與方法等號(hào)左邊的計(jì)算結(jié)果是專利累計(jì)總數(shù)；α是S曲線的成長(zhǎng)率；β（midpoint）為成長(zhǎng)曲線的斜率，當(dāng)該參數(shù)由正轉(zhuǎn)負(fù)時(shí)標(biāo)志著進(jìn)入衰退期[45]；L（saturation）即累積數(shù)量的能夠達(dá)到的最大值；T（growthtime）為某一技術(shù)在達(dá)到最大值的1....

圖2.2技術(shù)層次矩陣法根據(jù)這兩個(gè)指標(biāo)建立的坐標(biāo)系可以分為4個(gè)部分，如圖2.2所示，我們可以看

第二章基本理論與方法19首先是相對(duì)增長(zhǎng)率（RGR），計(jì)算研究技術(shù)與所有技術(shù)領(lǐng)域的專利申請(qǐng)數(shù)的平均增長(zhǎng)率的相對(duì)指標(biāo)。通過這一指標(biāo)，我們能夠分析出該技術(shù)領(lǐng)域與所有技術(shù)的增長(zhǎng)速度的比較，明確在整個(gè)技術(shù)領(lǐng)域中發(fā)展速度的地位和程度。其次是相對(duì)增長(zhǎng)潛力率（RDGR），這一概念主要測(cè)度該技術(shù)領(lǐng)....

圖2.3技術(shù)生命周期圖法示意圖

技術(shù)生命周期測(cè)度指標(biāo)重構(gòu)與實(shí)證研究20數(shù)或?qū)＠麢?quán)人表示當(dāng)前參與到該技術(shù)的主體，也能夠初步推斷技術(shù)生命周期，二者之間的關(guān)系能為參與主體判斷生命周期階段提供初步判斷結(jié)果，對(duì)專利權(quán)人數(shù)和申請(qǐng)量有宏觀把握。如圖2.3所示。圖2.3技術(shù)生命周期圖法示意圖2.2.5TCT計(jì)算法上述方法都是研....

圖2.4Reinhard指標(biāo)階段變化曲線

技術(shù)生命周期測(cè)度指標(biāo)重構(gòu)與實(shí)證研究22圖2.4Reinhard指標(biāo)階段變化曲線

本文編號(hào)：3981322