發(fā)布時間：2025-05-13 04:02

　　LXI(LAN eXtensions for Instrumentation)總線技術(shù)使用以太網(wǎng)作為儀器之間互相通信的主要手段。在以太網(wǎng)廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域的今天,LXI總線系統(tǒng)與傳統(tǒng)的GPIB、PXI、VXI總線系統(tǒng)相比具有體積小、成本低、速度快、可靠性高等優(yōu)勢,更加適合組建網(wǎng)絡(luò)化和分布式自動測試系統(tǒng)。本文設(shè)計的2GS/s LXI邏輯分析儀屬于A類LXI儀器,符合LXI總線技術(shù)規(guī)范,實現(xiàn)了對64通道數(shù)據(jù)的2GS/s高速定時分析、數(shù)據(jù)的觸發(fā)識別以及存儲等功能。 本文首先對LXI總線技術(shù)和邏輯分析儀做了簡單介紹,分析了LXI儀器國內(nèi)外研究現(xiàn)狀,強調(diào)了研制LXI儀器的重要性。在LXI邏輯分析儀硬件設(shè)計中本文分為兩大塊——LXI接口模塊、數(shù)據(jù)采集模塊分別進行重點闡述。LXI接口模塊硬件設(shè)計中,結(jié)合教研室原有技術(shù),采用嵌入式ARM9(S3C2440)核心板作為硬件開發(fā)平臺,采用WinCE操作系統(tǒng)作為軟件開發(fā)平臺。詳細介紹了IEEE1588定時觸發(fā)、硬件總線觸發(fā)、LAN消息觸發(fā)這三種LXI觸發(fā)方式相關(guān)硬件設(shè)計及之間的配合工作。數(shù)據(jù)采集模塊的設(shè)計中,首先介紹了前端探頭通道設(shè)計。接著提出了通過串并轉(zhuǎn)...

【文章頁數(shù)】：76 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 LXI總線技術(shù)簡介
    1.2 邏輯分析儀簡介
    1.3 LXI儀器國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.4 課題的研究內(nèi)容及主要技術(shù)目標(biāo)
第二章 LXI邏輯分析儀總體設(shè)計方案
    2.1 LXI邏輯分析儀硬件總體設(shè)計方案
    2.2 LXI邏輯分析儀整機結(jié)構(gòu)設(shè)計
第三章 LXI接口模塊的硬件設(shè)計
    3.1 IEEE 1588V2版精確時鐘同步協(xié)議簡介
        3.1.1 IEEE 1588V2版同步報文類型與結(jié)構(gòu)
        3.1.2 IEEE 1588V2版精確時鐘同步協(xié)議簡介
        3.1.3 影響同步精度的主要因素
    3.2 LXI接口模塊的總體硬件方案
    3.3 IEEE 1588定時觸發(fā)模塊設(shè)計
        3.3.1 同步報文截獲模塊設(shè)計
        3.3.2 高精度時鐘單元設(shè)計與改進
        3.3.3 時基觸發(fā)單元設(shè)計
    3.4 硬件總線觸發(fā)模塊設(shè)計
        3.4.1 硬件總線觸發(fā)介紹
        3.4.2 硬件總線觸發(fā)控制模塊電路設(shè)計
    3.5 LAN消息觸發(fā)模塊設(shè)計
第四章 數(shù)據(jù)采集模塊硬件設(shè)計
    4.1 數(shù)據(jù)采集模塊總體硬件方案
    4.2 采樣電路設(shè)計
        4.2.1 高速定時采樣電路設(shè)計
        4.2.2 狀態(tài)采樣電路設(shè)計
    4.3 觸發(fā)電路設(shè)計
        4.3.1 觸發(fā)的基本概念與分類
        4.3.2 觸發(fā)識別模塊設(shè)計
    4.4 數(shù)據(jù)存儲電路設(shè)計
        4.4.1 數(shù)據(jù)存儲方式設(shè)計
        4.4.2 數(shù)據(jù)存儲控制電路設(shè)計
第五章 LXI邏輯分析儀功能指標(biāo)測試
    5.0 測試所用設(shè)備
    5.1 LXI接口模塊功能指標(biāo)測試
        5.1.1 IEEE 1588定時觸發(fā)同步精度測試
        5.1.2 硬件總線觸發(fā)精度測試
    5.2 數(shù)據(jù)采集模塊功能指標(biāo)測試
        5.2.1 數(shù)據(jù)采集存儲功能指標(biāo)測試
        5.2.2 觸發(fā)識別功能指標(biāo)測試
第六章 總結(jié)與展望
致謝
參考文獻
攻碩期間取得的研究成果
附錄



本文編號：4045713