發(fā)布時(shí)間：2025-01-07 03:42

　　 通過改變氧化銻的含量,分析不同含量對(duì)氧化鋅電阻片電位梯度、泄漏電流等性能的影響。氧化銻在燒結(jié)過程中與氧化鋅可以形成尖晶石相,可以抑制氧化鋅晶粒尺寸的大小,進(jìn)而調(diào)整電阻片電位梯度。在傳統(tǒng)五元配方體系中,通過改變氧化銻的增加,電阻片收縮率逐漸增大,致密度逐漸增加;摻雜適量的氧化銻可以提高電位梯度,降低泄漏電流;摻雜過量的氧化銻會(huì)降低電位梯度。

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【部分圖文】：

圖1 摻雜不同含量氧化銻電阻片的外觀

圖1中可以看出摻雜不同含量氧化銻后電阻片的外觀，隨著氧化銻含量的增加電阻片顏色逐漸加深。電阻片外觀顏色由淺黃色逐漸變?yōu)樯罹G色。且隨著氧化銻含量的增加電阻片的致密度逐漸提高，氣孔逐漸減少。表2給出了電阻片經(jīng)過780℃預(yù)燒處理后電阻片的直徑、重量、收縮率。從表2中可以得到隨著氧化銻含....

圖2 平均電位梯度隨氧化銻摻雜量變化曲線及泄漏電流隨氧化銻摻雜量變化曲線

表3給出了摻雜不同含量氧化銻后電阻片電位梯度、泄漏電流。從圖2中可以看到當(dāng)氧化銻的含量為0～1.5kg時(shí)，平均電位梯度由161V/mm變?yōu)?47V/mm;當(dāng)氧化銻的含量為1.5～4.5kg時(shí)，平均電位梯度隨著氧化銻的含量增大逐漸減小，由347V/mm減小為145V/m....

圖3 樣品的SEM圖

從圖3中可以看出隨著氧化銻摻雜量的變化電阻片的顯微結(jié)構(gòu)。隨著氧化銻摻雜量的增加，電阻片晶粒的平均粒徑表現(xiàn)為先減小后增大又減小的趨勢(shì)，由此可認(rèn)為電位梯度隨著晶粒的增大而減小。3結(jié)論

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